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四探针导体电阻率测量仪
于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于高校物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。
（使用环境5—40℃，相对湿度<80%，供电220V  50Hz，为实验室环境使用）
由直流电压电流源、直流数字电压表、四探针样品测试平台三部分组成。
直流电压电流源：
是一台4?位的电压源及电流源，既可输出5μV—50V，5档可调电压，
基本误差为±（0.1%RD+0.02%FS）又可输出1nA—100mA，5档可调电流，基本误差为±（0.03%RD+0.02%FS）。
直流数字电压表：具有6?位字长，0.1μV电压分辨力的带单片危机处理，的高精度电子测量仪器，可测量0-1000V直流电压。基本量程的基本误差为±（0.002%RD+0.0005%FS），详见本公司产品PZ158A。
四探针样品测试平台：该测试平台是SB120/1测试平台的改进型。其有底座、支架、旋动部件、样品平台、四探针及接线板等组成。由于其整个结构及旋动方式都在原SB120/1的基础上作了很大的改进，故在高校的物理实验及****总为导体/半导体/金属薄膜材料的电阻和电阻率的测试、研究提供了较大的方便。