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SHY-JGL1两探针单晶硅多晶硅测试仪

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产品名称: SHY-JGL1两探针单晶硅多晶硅测试仪
产品型号: SHY-JGL1
产品展商: ghitest
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简单介绍

本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况，以便硅材料的切割和加工。


SHY-JGL1两探针单晶硅多晶硅测试仪  的详细介绍
产品简介:
本仪器主要用于测量大直径的单晶硅和多晶硅的电阻率分布情况，以便硅材料的切割和加工。
为适应大规模集成电路的迅猛发展，**是计算机芯片、内存的发展，越来越多的使用到了大直径、高*度、均匀度*高的单晶硅材料。目前，在美国、德国等的工业，均采用了二探针法，使用二探针麻豆专媒体一区二区网站来测量大直径单晶硅的电阻率分布情况。
本仪器美国ASTM 《“F391-77”关于二探针测量硅单晶试验方法》的标准，是一种**的半导体电阻率测试仪，适合半导体材料厂和器件厂用于二探针法测量单晶硅和多晶硅半导体棒状材料的体电阻率，从而进一步判断半导体材料的性能，指导和监视操作，也可以用来测量金属材料的电阻，仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便、造型美观等特点。也可以配四探针测试头作常规的四探针法测量硅晶体材料。
仪器分为仪表电气控制箱、测试台、探头三部分，仪表电气控制箱由高灵敏度直流数字电压表、高抗干扰高隔离性能的电源变换装置、高稳定高精度恒流源和电气控制部分组成。测量结果由大型LED数字显示，零位稳定、输入阻抗高，并设有自校功能。在棒状材料使用二探针法测试时，具有系数修正功能，从面板输入相应的修正系数，可以直接读出电阻率，使用方便。测试台结构**，造型美观，可以方便地固定好大小**尺寸的样品，并可以作逐点选择步进测量，也可以自由选择固定位置测量，电活动自如，具备锁定装置，方便重复测量。另外还配置了二处记录板和转椅，测试探头能自动升降，探针为碳化钨材料，配置宝石轴承，具有测量精度高、游移率小、耐磨、使用寿命长特点。同时探头压力恒定并且可调整，以适合不同的材料。
规格参数：
可测硅材料尺寸：
直径Φ25~Φ150mm满足ASTM F-397的要求。
长度：100~1100mm.
测量方式：轴向测量，每隔10mm测量一点。
测量电阻率范围：10-3~103Ω-cm,可扩展到105Ω-cm。
数字电压表：
量    程：0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
测量误差：±0.3%读数±2字
输入阻抗：0.2mV和2mV档>106Ω
           20mV档及以上>108Ω
显    示：31/2位LED数字显示，范围0~1999。
恒 流 源：
电流输出：直流电流0~100mA连续可调。
量    程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA
电流误差：±0.3%读数±2字
二探针测试装置：
探针间距：4.77mm
探针机械游移率：0.3%
探针压力：0~2kg可调
测试探头自动升降
二探针测试台
测试硅单长度：100-1100mm
测试点间距：10mm
测试台有慢、快二种移动速度，快速移动速度为1000mm/分（均匀手动）
电    源：交流220V±10%，50HZ±2HZ
消耗功率：<150W
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